Knihy od autora Yervant Zorian

Zobrazeno 1 – 7 z 7 výsledků

1. 

   Embedded Processor-Based Self-Test

   Dimitris Gizopoulos, A. Paschalis, Yervant Zorian | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3532 Kč

   Koupit
2. 

   Embedded Processor-Based Self-Test

   Yervant Zorian | Springer-Verlag New York Inc., 2004

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-13 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3532 Kč

   Koupit
3. 

   Multi-Chip Module Test Strategies

   Yervant Zorian | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
4. 

   On-Line Testing for VLSI

   Michael Nicolaidis, Yervant Zorian, Dhiraj K. Pradhan | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
5. 

   On-Line Testing for VLSI

   Michael Nicolaidis, Yervant Zorian, Dhiraj K. Pradhan | Springer, 1998

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-13 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2357 Kč

   Koupit
6. 

   Collaboration and Technology

   Nelson Baloian, Yervant Zorian, Perouz Taslakian, Samvel Shoukouryan | Springer International Publishing AG, 2015

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   1135 Kč

   Koupit
7. 

   Multi-Chip Module Test Strategies

   Yervant Zorian | Kluwer Academic Publishers, 1997

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 13-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2646 Kč

   Koupit

Zboží zasíláme ihned nebo nejrychleji jak je to možné. Zjistěte více